天纳光电申请光学镜片表面微缺陷激光共聚焦检测方法及系统专利实现对光学镜片表面微缺陷更高精度的检测

　　国家知识产权局信息显示，南阳市天纳光电科技有限公司申请一项名为“一种光学镜片表面微缺陷的激光共聚焦检测方法及系统”的专利，公开号CN121437488A，申请日期为2025年11月。

　　专利摘要显示，本发明属于共聚焦检测的技术领域，尤其涉及一种光学镜片表面微缺陷的激光共聚焦检测方法及系统，以解决现有的偏振检测方法存在图像等权处理的噪声污染、单一参数难以全面表示缺陷以及对复杂区域的适应性差的技术问题。检测方法包括：S1，获取对应于各偏振角度的多帧偏振强度图像；S2，计算所有已计算的全局结构熵的算术平均值，得到平均结构熵；S3，生成极化信息复合特征图；S4，根据所有判定为微缺陷像素点的空间分布，确定光学镜片表面的微缺陷位置与形貌。本发明通过信息加权、特征融合以及联合判据的协同作用，实现了对光学镜片表面微缺陷更高精度的检测。

　　天眼查资料显示，南阳市天纳光电科技有限公司，成立于2016年，位于南阳市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，南阳市天纳光电科技有限公司财产线条，此外企业还拥有行政许可2个。

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